AOI 自动光学检测

AOI自动光学检测是一种基于光学成像和图像处理技术的自动化检测方法，广泛应用于电子制造、半导体、印刷电路板等领域。
其核心原理是通过高分辨率摄像头捕捉被测物体的表面图像，再通过算法分析图像特征，实现对缺陷、异物或装配异常的快速识别与定位。
该系统通常由光学成像模块、运动控制模块和图像处理模块组成。
光学成像模块采用特定波长光源和工业级相机，可清晰呈现微米级细节；运动控制模块确保检测位置精准定位；图像处理模块则运用模式识别、深度学习等技术，将采集图像与标准模板比对，识别偏移、划痕、缺件等异常情况。
检测精度可达亚微米级，单次检测时间通常在毫秒级。
相较于传统人工检测，AOI具有三大显著优势：一是检测效率提升数十倍，可实现每分钟数百个元器件的全检；二是具备量化检测能力，能记录缺陷尺寸、位置等数据，便于工艺追溯与改进；三是可检测人眼难以识别的微观缺陷，如焊点虚焊、微裂纹等。
典型应用场景包括SMT贴装质量检测、芯片封装缺陷筛查、液晶面板线路检测等。
技术发展呈现三个趋势：一是多光谱检测技术应用，通过紫外、红外等多波段成像增强缺陷识别能力；二是智能算法升级，基于深度学习的缺陷分类准确率已超过98%；三是与3D检测技术融合，通过激光三角测量等实现高度差检测。
当前技术难点主要在于复杂背景下的缺陷辨识，以及微小异物与正常工艺痕迹的区分。
实施过程中需注意三个要点：首先应根据检测对象特性选择合适的光源波长和照射角度；其次需建立动态更新的标准模板库以适应工艺波动；最后要平衡检测速度与精度的关系，通过分区检测等策略优化系统性能。
未来随着计算视觉技术进步，AOI将向更高精度、更强适应性和更智能化的方向发展，成为智能制造质量控制体系的核心环节。